c心術(shù)小說

C-V吉時(shí)利全新接線技術(shù)
圖7. 跳接同軸線[28]屏蔽層示意圖
好的C-V測量取決于接地跳線的質(zhì)量。隨著頻率的提高，好的接地跳線變得愈發(fā)重要。探頭體必須跳接在一起，因?yàn)橥S線纜的屏蔽層實(shí)際上是C-V測試系統(tǒng)測量通路的一部分。如果屏蔽層沒有靠近連接在一起，就會形成一個(gè)很大的回路，從而在測量通路中直接產(chǎn)生較大的電感，給電容測量帶來很大的誤差。
當(dāng)有人想要采用與C-V測量系統(tǒng)相同的探針和線纜系統(tǒng)配置進(jìn)行直流I-V測量時(shí)，按這種方式（如圖7所示）跳接探針體[29]的缺點(diǎn)就顯而易見了。
圖8. 新方法簡化了I-V、C-V和超快I-V測試連接配置
吉時(shí)利研究出了一種新的接線技術(shù)（如圖6所示）能夠減少在I-V、C-V和超快I-V測試之間轉(zhuǎn)換所需的重新連線時(shí)間。這種技術(shù)采用一種特殊的三軸線纜直接連接探頭，但是內(nèi)部屏蔽層保持浮空或者與C-V同軸屏蔽層絕緣。這實(shí)際上是將外部屏蔽層跳接在了一起，保持內(nèi)部屏蔽層浮空為直流I-V的驅(qū)動保護(hù)。這種三軸接頭實(shí)現(xiàn)了一種簡便而直接的與直流I-V三軸輸出端的連接方式。C-V輸出從同軸轉(zhuǎn)換為三軸，保護(hù)端仍然斷開，從而同一條線纜很容易從直流I-V轉(zhuǎn)換到C-V測試端。這種特制的三軸線纜具有100歐姆的匹配阻抗，因此同樣的線纜可以采用T型連接方式連接在一起，直接與超快I-V測試儀器[30]連接。這種配置使得屏蔽層跳線始終保持連接，能夠快速而簡便地實(shí)現(xiàn)直流I-V、C-V和超快I-V測試之間的轉(zhuǎn)換。
半導(dǎo)體C-V測量的精確性取決于高精度的測試儀器、精心設(shè)計(jì)的布線結(jié)構(gòu)以及對這些底層測量原理的準(zhǔn)確理解。在掌握這些方面之后，您就可以設(shè)計(jì)出能夠滿足測試應(yīng)用需求的硬件和布線結(jié)構(gòu)。